BeamWave传感器在一体式设备中同时提供强度和波前测量。这些传感器不是使用微透镜阵列进行波前采样，而是基于创新的数字波前技术, 因此，波前测量点的数量仅受提供高空间分辨率波前的相机分辨率的限制。BeamWave系列光束质量分析仪及高分辨率波前传感器，具有高分辨率、测量速度快、测量功能更全面，无需繁琐的导轨等优点，仅需一台BeamWave即可测量所有的激光光束参数，包括光束发散角，光斑位置大小，三维能量分布，波前能量、相位分布，波前曲率半径等。BeamWave光束质量分析仪（M2仪，激光轮廓仪）的通用性强，连续和脉冲光束都能测量，十分适合客户用于各类激光参数研究。
BeamWave系列光束质量分析仪采用的波前传感技术，它的原理是在CCD探测过程中，入射激光光斑会被分成两束激光，一快一慢分别先后的到达两个CCD探测器阵面上，得到两个光束图像。通过对比分析这两个图像的波前能量强度分布和波前相位分布可以分析出该光束的M2值、发散角、光束位置和其它传播参数。
我们的传感器配有GetLase® 用于所有激光束参数和GetWave®的即时诊断的GUI软件图形用户界面软件与全面的波前分析工具，包括，Zernike，MTF和PSF。已成功用于以下应用程序：
产品特征
| 型号 | STP-BeamWave500 | STP-BeamWave1000 | STP-BeamWave1500 | STP-BeamWave FIR | |
| 最大输入光束直径1/e2 | 3.2mm | 4.8mm（双CCD） | 6.4mm | 10.88 x 8.16 mm | |
| 光束强度测量模式 | 连续或脉冲，XYZ三轴测量 | ||||
| 波长范围 | 350‐1100 nm | 2-16 µ m | |||
| 有效CCD口径 | 3.2mm | 4.8mm | 6.4mm | ||
| CCD像元大小 | 6.45 x 6.45μm | 17 µ m | |||
| M2测量功能 | 连续和脉冲激光 | ||||
| M2范围 | 1-50 | ||||
| M2精度 | ±5% | ±5% | ±5% | ||
| M2重复性 | 2% | ||||
| 波前测量功能 | 有 | ||||
| 波前测量点数 | 500×500 | 1392×1040 | 1392 X1040 | 640 x 480 | |
| 波前灵敏度，rms | 0.005λ | 0.005λ | 3nm, >0.02λ | ||
| 波前精度，rms | 0.01λ | 0.01λ | 6nm, >0.01λ | 0.01λ | |
| 波前动态范围 | 1500λ | 1500λ | 1800λ | 1500λ | |
| 测量时间 | 实时 | ||||
| 重量 | 0.35 Kg | 2.5 Kg | 1.15 Kg | 0.272 Kg | |
| 尺寸 | 41×55×80 | 87×161×84 mm | 114x72x172 mm | 61×67×66 mm | |
| 光学接口 | C-Mount | ||||
| 计算机接口 | USB 2.0，Windows 7，XP，Vista | ||||
| 标配软件 | GetLase | GetLase | GetLase | GetLase | |
| GetWave | GetWave | GetWave | |||
| 供电 | USB供电，无需电源 | ||||
| 可选项： | 3ND Filter, Beam Splitter Wedges, IR Converter，光束缩束和扩束, Beam Reducer/Expander2X,3X,4X Software Development Kit软件，GetWave软件波长从紫外到红外的特定探测器（其他波长） |
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软件
提供GetLase® 和GetWave® GUI软件,包括用于光束轮廓和波前分析的综合测量工具：
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